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AuteurExpression booléenneYun Q. Shi,
(ET) Date= l'expression `2008`
(ET) Catégorie= l'expression `Electronique`
Électronique appliquée aux hautes fréquences principes et applicationscover image

Ouvrages/Monographies

Electronique

Électronique appliquée aux hautes fréquences principes et applications

Auteurs :

Année : 2008

Ville d'édition : Paris

Électronique analogique et numérique cover image

Ouvrages/Monographies

Electronique

Électronique analogique et numérique

Auteurs :

Année : 2008

Ville d'édition : Paris

CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies process-aware SRAM design and testcover image

Ouvrages/Monographies

Electronique

CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies process-aware SRAM design and test

Auteurs :

Année : 2008

Ville d'édition : [Dordrecht]