Cmos sram circuit design and parametric test in nano-scaled technologies process-aware sram design and test

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Titre :CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies process-aware SRAM design and test
Type de document :text imprimé
Auteurs :Pavlov, Andrei, | Sachdev, Manoj,
Éditeur :Springer
Année de publication :2008
Collection :Frontiers in electronic testing
Sous-collection :----
Importance :xvi, 193 p.
Présentation :ill.
Format :25 cm
ISBN/ISSN/EAN :9781402083624
Prix :-----
Note générale :----
Langues :Anglais
Catégories :Electronique
Index.décimal :621.3

Mots clés :

-
Ville d'édition :[Dordrecht]
Résumé :----

Exemplaires :

LocalisationSectionCôteExemplaireStatut
inptElectronique05.2161 PAV14663disponible