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AuteurExpression booléennePavlov, Andrei,
CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies process-aware SRAM design and testcover image

Ouvrages/Monographies

Electronique

CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies process-aware SRAM design and test

Auteurs :

Encadrant :

Année : 2008

Ville d'édition : [Dordrecht]