Testing complex and embedded systems

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Titre :Testing complex and embedded systems
Type de document :text imprimé
Auteurs :Pries, Kim H. | Quigley, Jon M.
Éditeur :CRC Press
Année de publication :2011
Collection :----
Sous-collection :----
Importance :1 vol. (XXXI-287 p.)
Présentation :ill.
Format :24 cm
ISBN/ISSN/EAN :9781439821404
Prix :-----
Note générale :Bibliogr. p. 281
Langues :Anglais
Catégories :Physique
Index.décimal :621.3

Mots clés :

-
Ville d'édition :Boca Raton
Résumé :----

Exemplaires :

LocalisationSectionCôteExemplaireStatut
inptPhysique05.33 PRI14407disponible